北京恒奧德儀器儀表有限公司
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HAD-GD-1A光電效應實驗儀的詳細資料：
光電效應實驗儀型號：HAD-GD-1A
半導體激光器：光譜650nm；作電壓：DC2.6V~3.2V；光電管作電壓：DC-2V~30V；微電測量：20μA，200μA，2000μA；分辨率0.01μA；光率：量程2mW；分辨率0.001 mW；數字電壓表：量程200V；分辨率0.1V；實驗暗箱：460ⅹ105ⅹ90mm。
光電效應實驗儀型號：HAD-GD-1A
2.活性炭粒度測定儀/活性炭粒度測試儀/活性碳粒度檢測儀?? 型號:HAD-LD3
主要部件及主要參數:
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測顆粒粒度測定儀的主要部件及參數
l???????? 轉速：150±2r/min
轉軸偏心距：20?±1mm
2.定時器
3.電壓：220V??? 功率：0.5KW
3.手持式四探針測試儀/四探針檢測儀 型號:HAD-3
概述
HAD-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.HAD 標準。
儀器成套組成：由HAD-3主機、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺。
儀器所有參數設定、功能轉換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動/自動轉換量程可選；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭特點與選型參考》點擊進入
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。
儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的手持式導電性能的測試。
三、基本技術參數
1. 測量范圍、分辨率
電??? 阻：???? 0.010 ～ 50.00kΩ,???? 分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率：???? 0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方塊電阻：???? 0.050～ 100.00kΩ/□?? 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下：
直??? 徑：HADT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方測試臺直接測試方式180HADHAD×180HADHAD。
長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100HADHAD。.
測量方位: 軸向、徑向均可.
4.多功能數字式四探針測試儀/臺式四探針電阻率測試儀 型號:HAD-2258C
概述
HAD-2258C型多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結果分類功能，最大分類10類。
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選HAD-T-K型測試臺，也可選配HAD-T-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配HAD-T-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本技術參數
1. 測量范圍、分辨率（括號內為可向下拓展1個數量級）
電??? 阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103? Ω,??? 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103? Ω
???????? （1.0×10-6 ～ 20.00×103? Ω,??? 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm?? 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103? Ω-cm
???????? （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm? 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□??? 分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103? Ω/□
???????? （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□? 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103? Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直??? 徑： HAD-T-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(高)度：? 測試臺直接測試方式 H≤100mm,??? 手持方式不限.
測量方位:? 軸向、徑向均可
5.自動表面/界面張力儀/表面張力儀 型號：HA/BZY-203
HA/BZY系列自動表面/界面張力儀除了升降系統是手動操作外，。具有高性能設計，經濟型定位的特點，有著的性價比。
主要特征：
1. 鉑金板或鉑金環測試原理，操作簡單方便；
2. 自動數字化測量，減少人為操作誤差；
3. 全量程一鍵清零，瞬間完成，零位無漂移；
4. 全量程自動校正，數據準確可靠、重復性；
5. 鉑金板測試時，顯示值即為試樣的表面/界面張力值，鉑金環測試時，具有峰值保持功能，需通過Exce計算或通過數據處理軟件自動換算成表面/界面張力值；
6. 儀器結構緊湊，獨立工作。也可選配多功能數據處理軟件，得到更多的信息；
7. 能測量試樣的表面張力因時間不同而產生的變化（特別是有表面活性劑或含有揮發性物質時，限鉑金板測試模式下）；
8. 自動量測中、高粘度液體樣品并得到準確的平衡結果（限于鉑金板測試模式）；
9. 可測量不相混合液體之間界面張力如：油/水界面；
10.可取代傳統機械式表面張力儀，且精度更高、重復性更好、使用更方便；
11.本系列儀器除了手動控制試樣平臺升降外，主要結構和技術參數與QBZY系列相仿，具有高品質設計、經濟型價格，性價比特高。
以上參數資料與圖片相對應
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